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seaward介电耐压VS介电击穿测试——Hal系列综合电器安规测试仪

点击次数:144 发布时间:2022-05-31

seaward介电耐压VS介电击穿测试——Hal系列综合电器安规测试仪

SEAWARD综合电器安规测试仪Hal系列

 

高压测试(Hipot)测试是⼀个⾮常通⽤的测试,可⽤于许多应⽤,从研发和形式检测,再到产品下线检测,甚⾄在维修后都会应用。


在本⽂中,我们研究了两种最常⻅的Hipot测试类型,介电耐压测试和介电击穿测试之间的区别。原则上,这两种测试在应⽤于待测设备(DUT)时⼏乎相同,但测试结果往往不同。⾼压测试通常涉及两个测试端⼦,⼀个电压源输出和⼀个泄漏电流流⼊的返回端⼦,并由测试设备测量。


耐压测试
耐压测试是最常⻅的Hipot测试类型。它主要是对被测物施加规定的电压,通常在1000V或更⾼的范围。


测试(输出)电压按照规定保持一段时间,按照不同的测试目的,时间要求也有所区别,形式检测可能需要几分钟,而常规的生产检测可能低至几秒钟。


通常,测试的成功结果将根据返回终端检测到的电流流量来确定。如果电流流量过多(泄漏电流),测试将作为失败中⽌。

SEAWARD综合电器安规测试仪Hal系列


电流流量的⼤⼩通常以毫安为单位测量,并设置电流阈值,以确定测试是否已通过。同样,取决于应⽤程序,此值可能会有所不同。对于类型测试场景,在100mA区域内的限制是相当常⻅的,在这些场景中,测试是在更受控的实验室类型环境中进⾏的。在⽣产线上进⾏测试时,这些限制通常要低得多,以确保测试操作员的安全,通常5mA以内是可以接受的。这种类型的测试通常不是破坏性的,除⾮设备中已经存在故障,因此它是⽣产环节中是非常常⻅的测试。但是作为测试时间更长的形式测试,可能会削弱绝缘材料的完整性。因此,形式测试的产品通常被认为不适合销售。


介电击穿测试
介质故障测试以与上述相同的⽅式进⾏,区别在于,它没有规定最⼤电压,通常也没有规定测试时间。
而是电压逐渐增加,直到被测试产品的绝缘体⽆法再承受电压并发生击穿击穿。这种电压是绝缘体变得导电的点。

 

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在这种情况下,关键参数是击穿点的电压。


如上所述,该测试的性质可以被视为具有破坏性,⽬的是迫使DUT达到击穿点。因此,这种类型的测试仅在研发环境中进⾏,不适⽤于常规测试,因为它会使设备处于不安全状态。


结论
可以看出,这两种测试⽅法在确定产品的整体安全性⽅⾯都有一席之地,它们的区别主要是在于测试的目的。明白这一点后,我们就能知道,为什么介电击穿测试仅用于研发阶段,而介电耐压测试广泛的应用于生产阶段。


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